电子元件阻温、伏安特性测试系统

由本实验室自主研发的热敏电阻电阻-温度特性测试系统、热敏电阻伏安特性测试系统系列测试设备，获得了教育部技术发明一等奖，供相关企业及质量认证部门使用。开发成功热敏材料及元器件等测试仪器仪表及计算机自动化测试系统，并生产了100余台套，供国内50余家企业和高等学校使用，深受各界用户好评。

矢量网络分析仪

中心拥有Angilent E5071C、AngilentE5061A、Advantest R3767C、Agilent 8722ES 40G等矢量网络分析仪共10余台，主要用于微波介质材料、微波元器件、新型电磁材料、微波电路、微波天线等特性的测量。可以测量电子器件(如存储器，放大器，混频器，滤波器等)和传输线的传输特性和反射特性，包括S散射参数、阻抗、导纳、VSWR等。

美国Radiant铁电材料测试仪(Ferroelectric Material Test System)

通过给铁电材料施加各种不同波形的电压信号，然后采集材料所释放的电荷信号或材料本身的形变信号进行各种不同的分析，得到所需要的各种测试参数指标。

测试电压：0~100V,100~4000V；电滞回线测试频率: 0.03Hz ~ 100 KHz；变温范围: -180~200度。

高分辨率光学金相显微镜

CMM-88E 金相显微镜是适用于对不透明物体的显微观察。显微镜配有大移动范围的载物台，落射照明器、平场消色差物镜、大视野目镜，图像清晰、衬度好，同时仪器配有偏光装置。光学放大倍数：50X - 1600X，系统参考放大倍数：50X-2600X，.落射照明器：6V/20W卤素灯，亮度可调，滤色片组：黄色、蓝色、绿色、磨砂玻璃，偏光装置：可插入式起偏振片和三目头内置检偏振片。